Index
Telegram RSS ارسال به دوستان نسخه چاپی ذخیره خروجی XML خروجی متنی خروجی PDF
کد خبر : 137017
تاریخ انتشار : 11 آبان 1388 0:0
تعداد بازدید : 49

در دانشگاه تهران

ارتقاي کيفيت ميکروسکوپ هاي نيروي اتمي توسط محققان ایرانی

پژوهشگران دانشگاه تهران، سطح کيفيت ميکروسکوپ هاي نيروي اتمي را براي انجام عمليات تصويربرداري و نيز بهبود دقت دستکاري در مقياس نانو بالا بردند... خبرگزاري دانشجويان ايران - تهران: پژوهشگران دانشگاه تهران، سطح کيفيت ميکروسکوپ هاي نيروي اتمي را براي انجام عمليات تصويربرداري و نيز بهبود دقت دستکاري در مقياس نانو بالا بردند. به گزارش سرويس پژوهشي خبرگزاري دانشجويان ايران(ايسنا)، مهندس امير فرخ پيام، دانشجوي دكتري نانوالكترونيك، پروژه اي را با هدف بالا بردن كيفيت و دقت تصويربرداري ميكروسكوپ نيروي اتمي در دانشگاه تهران انجام داده و براي نيل به اين مهم، سيستم تخمينگر تغييرات سطح نمونه و تركيب آن با كنترل كننده پيشرفته را طراحي كرده است. وي درباره نحوه انجام اين کار چنين گفت: «روش انجام اين پژوهش بر اساس طراحي مشاهده گري تطبيقي به منظور تخمين ارتفاع و تغييرات سطح نمونه با استفاده از روش هاي غيرخطي تطبيقي و تركيب آن با كنترل كننده اي غير خطي (كه بر اساس روش خطي سازي بازخورد حالت خروجي كار مي كند) است؛ لذا در ابتدا ميكروسكوپ نيروي اتمي و نيروهاي مرتبط با كار آن در ابعاد نانو، مدل سازي و تغييرات سطح نمونه ها و ذرات مختلف در ابعاد نانو مورد ارزيابي قرار گرفت. در ادامه با طراحي رويتگر و كنترل كننده، سيستم طراحي شده با مدل ميكروسكوپ، تركيب و با انجام شبيه سازي هاي كامپيوتري و تحليل عددي، صحت الگوريتم ارائه شده مورد ارزيابي قرار گرفت و در نهايت با ديگر روش هاي متداول مقايسه شد.» با اين ميکروسکوپ نيروي اتمي مي توان تغييرات سطح نمونه را براي تصويربرداري در مد غير تماس به صورت هم زمان و در سرعتي بسيار بالا انجام داد كه در نهايت منجر به افزايش قدرت تفكيك تصوير، بالا رفتن سرعت روبش و نيز افزايش صحت تصوير و همچنين بالا رفتن كيفيت و وضوح آن در برابر اغتشاشات محيط، همچون لرزش هاي وارد بر ميكروسكوپ و سيستم اندازه گيري موقعيت سوزن ميكروسكوپ مي شود. جزئيات اين پژوهش که با همکاري دكتر مرتضي فتحي پور و دكتر محمدجواد يزدان پناه انجام شده، در مجله Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures منتشر شده است.